[1]
Н. М. Ёкуб ЭРГАШОВ, А. Т. Сафарали КУЧАРОВ, and Хуснора НОРКУЛОВА, “STUDY OF THE WIDTH OF THE TRANSITION LAYER OF A BILAYER SILICIDE-SILICON SYSTEM ”, NUUz, vol. 3, no. 3.1, pp. 380–382, May 2025.