[1]
Н. М. Ёқуб ЭРГАШОВ, А. Т. Сафарали КУЧАРОВ, and Зуснора НОРКУЛОВА, “INVESTIGATION OF THE WIDTH OF THE TRANSITION LAYER IN A SILICIDE-SILICON BILAYER SYSTEM ”, NUUz, vol. 3, no. 3.1.1, pp. 440–443, Jun. 2025.