ВЗАИМОСВЯЗЬ МОРФОЛОГИИ, ФАЗОВОГО СОСТАВА И КОЛЕБАТЕЛЬНЫХ СВОЙСТВ ТОНКИХ ПЛЕНОК TiO2
В данном исследовании физико-химические свойства тонких пленок TiO₂ подробно изучены методом рамановской и инфракрасной (ИК) спектроскопии. С увеличением толщины повышается структурная целостность анатазной и рутиловой фаз, усиливается интенсивность фонового резонанса и уменьшаются поверхностные химические изменения. Рамановская спектроскопия эффективно оценивала кристалличность и морфологическую однородность, а ИК-спектры выявляли растяжение и изгиб колебаний связей Ti–O и Ti–O–Ti. Механические напряжения и химические группы регистрировались в диапазоне 700–800 см⁻¹. Результаты подчёркивают важность толщины и поверхностных свойств TiO₂ для фотокаталитических и оптоэлектронных приложений.
1. Y. Liu, A. Wang, and R. Claus, J. Phys. Chem. B 101, (1997) pp 583–589.
2. C. Garzella, E. Comini, E. Tempesti, C. Frigeri, G. Sberveglieri, Sens. Actuators Chem. (2000) 68, 189.
3. J. Yu, X. Zhao, Q. Zhao, Mater. Chem. Phys. (2001) 69, 25
4. O‘Regan B, Gratzel M., Nature, 353: (1991) pp. 737 - 740.
5. R.C. Jayasinghe, A.G.U. Perera, H. Zhu, Y. Zhao, Opt. Lett. (2012).
6. K. S. Yeung and Y. W. Lam, Thin Solid Films (1983) pp. 109, 169.
7. M.H. Habibi, N. Talebian, J.H. Choi, Dyes Pigm. (2007) pp. 73, 103.
8. B.D. Igamov. Investigation of Coatings Formed by Thermal Oxidation on Monocrystalline Silicon // Integrated ferroelectrics, 2024, Vol. 240, pp. 53–63.
9. Doi: 10.1080/10584587.2023.2296317.
10. R. Ayouchi, C. Casteleiro, R. Schwarz, J.R. Barrado, F. Mart ı´n, Phys. Status Solidi C (2010)
11. B.D. Igamov. Electrophysical and thermoelectric properties and crystal structure of the formed Mn4Si7 thin vacuum coatings // Optical Materials: X 24(2024) 100353. https://doi.org/10.1016/j.omx.2024.100353.
Copyright (c) 2025 «ВЕСТНИК НУУз»
Это произведение доступно по лицензии Creative Commons «Attribution-NonCommercial-ShareAlike» («Атрибуция — Некоммерческое использование — На тех же условиях») 4.0 Всемирная.
.jpg)
2.png)
