НАНОСТРУКТУРИРОВАННЫЕ ТОНКИЕ ПЛЕНКИ NIO, ПОЛУЧЕННЫЕ МЕТОДОМ СОЛ–ГЕЛЬ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ ЦЕНТРИФУГИРОВАНИЯ: СТРУКТУРНЫЕ И ОПТИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА
Тонкие пленки NiO были получены на подложках SiO₂ методом сол–гель с использованием центрифугирования (spin
coating). Структурные свойства пленок были исследованы методом рентгеновской дифракции (XRD), что подтвердило
формирование поликристаллической фазы NiO с кубической кристаллической решеткой. Размер кристаллитов и
микродеформация были определены с использованием метода Уильямсона–Холла, при этом средний размер кристаллитов
составил около 48 нм, а микродеформация — 1.5 × 10⁻³. Морфология поверхности была изучена с помощью сканирующей
электронной микроскопии (SEM), а оптические свойства исследованы методом УФ–видимой спектроскопии. Оптическая
ширина запрещенной зоны была определена с использованием метода Така (Tauc plot). Полученные результаты
показывают, что синтезированные тонкие пленки NiO обладают подходящими структурными и оптическими
характеристиками для потенциального применения в функциональных устройствах.
1. Sato, H., Minami, T., Takata, S., & Yamada, T. (1993). Transparent conducting p-type NiO thin films prepared by magnetron
sputtering. Thin Solid Films, 236(1–2), 27–31.
2. Bandara, J., Weerasinghe, H., & Rajapakse, R. (2005). Photocatalytic activity of NiO nanoparticles. Applied Catalysis A,
287(2), 190–195.
3. Parra, R., & Haque, F. (2014). Structural and optical properties of NiO thin films prepared by sol–gel method. Journal of
Materials Science, 49(20), 6906–6913.
4. Karthik, K., et al. (2011). Structural and optical properties of NiO thin films. Applied Surface Science, 257(24), 10749–
10754.
5. El-Kemary, M., et al. (2010). Visible light photocatalytic activity of NiO nanoparticles. Materials Science in Semiconductor
Processing, 13(4), 218–225.
6. Liu, Z., et al. (2012). Optical properties of NiO thin films. Optical Materials, 34(3), 590–594.
7. Kumar, M., et al. (2014). Influence of annealing temperature on NiO films. Journal of Materials Science: Materials in
Electronics, 25(5), 2202–2208.
8. Singh, A., et al. (2015). Effect of thickness on NiO thin films. Thin Solid Films, 589, 241–247.
9. Hussain, S., et al. (2017). Nanostructured NiO thin films for applications. Applied Physics A, 123(2), 1–8.
10. Zhang, X., et al. (2013). Optical band gap tuning in NiO thin films. Journal of Alloys and Compounds, 561, 16–21.
11. Tauc, J. (1974). Optical properties and electronic structure of amorphous semiconductors. Materials Research Bulletin, 3(1),
37–46.
12. Williamson, G. K., & Hall, W. H. (1953). X-ray line broadening. Acta Metallurgica, 1(1), 22–31.
13. A.A. Al-Ghamdi., et al. (2009). Structure and optical properties of nanocrystalline NiO thin film synthesized by sol–gel spincoating method. Journal of Alloys and Compounds 486, 9-13.
14. Tatyana Ivanova, Antoaneta Harizanova, Nikolay Petkov (2025). Optical, Electrical, and Structural Properties of NiO Thin
Films, Derived by Sol–Gel Method. Sol-Gel. 9-944
15. Cullity, B. D., & Stock, S. R. (2001). Elements of X-ray Diffraction. Prentice Hall.
16. A Arslanov, Sh Yuldashev, N Botirova, R Nusretov, J Murodov, J Xudoyqulov. Impact of Precursor Molar Concentration
on the Structural and Optical Properties of ZnO Thin Films Synthesized by Ultrasonic Spray Pyrolysis // Physical Science
International Journal. Volume29/ issue1/ 29-35 pages
17. Jamoliddin X. Murodova, Shavkat U. Yuldashev, Azamat O. Arslanov, Noiba U. Botirova, Javohir Sh. Xudoyqulov, Ra’no
Sh. Sharipova at al. Resistive switching behavior of sno₂/zno heterojunction thin films For non-volatile memory applications
3. 348-352
Copyright (c) 2026 «ВЕСТНИК НУУз»
Это произведение доступно по лицензии Creative Commons «Attribution-NonCommercial-ShareAlike» («Атрибуция — Некоммерческое использование — На тех же условиях») 4.0 Всемирная.
.jpg)
2.png)
